Microscopia Correlativa - Raman/AFM/SNOM/SEM
Il sistema AFSEM consente di combinare le possibilità del SEM con quelle della microscopia a forza atomica (AFM). Il dispositivo AFSEM è compatibile con la maggior parte dei sistemi SEM e FIB/SEM ...
Il microscopio alpha300 RA è stato il primo sistema commerciale ad integrare le tecniche di Imaging Raman confocale e microscopia a forza atomica (AFM) in un'unica piattaforma, e continua tuttora a ...
Il sistema alpha300 RS combina in un unico strumento tutte le caratteristiche dei microscopi alpha300 R e alpha300 S, eseguendo sia misure di Imaging Raman Confocale che misure di microscopia ottica ...
Il microscopio alpha300 RAS combina in un unico sistema le tecniche di Raman Imaging, AFM e SNOM fornendo uno strumento incredibilmente flessibile per la caratterizzazione di campioni di varia natura ...
Il primo vero sistema al mondo che integra misure di Imaging Raman confocale e misure di Microscopia Elettronica a Scansione (SEM), aprendo le porte ad nuova tecnica di microscopia correlativa: RISE ...
Il Sistema di microscopia TrueSurface della WITec, vincitore di diversi premi R&D 2011, permette di eseguire misure di Imaging Raman confocale ad altissima risoluzione anche su superfici estremamente ...